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| >>高低溫試驗(yàn)箱GB/T2423.1-2008標(biāo)準(zhǔn)概述 |
| 高低溫試驗(yàn)箱GB/T2423.1-2008標(biāo)準(zhǔn)概述 |
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| 時間：2011/9/29 |
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高低溫試驗(yàn)箱GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》標(biāo)準(zhǔn)概述：
GB/T2423.1-2008適用于非散熱和散熱兩類試驗(yàn)樣品。GB/T2423.1-2008對于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423.2-2008對于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Ba和Bb不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T2423.1-2008僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品）在低溫環(huán)境條件下貯存和（或）使用的適應(yīng)性。不能用來評價試驗(yàn)樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法。
非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：-----試驗(yàn)Aa：溫度突變
-----試驗(yàn)Ab：溫度漸變
散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)： -----試驗(yàn)Ad：溫度漸變
高低溫試驗(yàn)箱GB/T2423.1-2008通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時開始計算的。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定，剛試驗(yàn)持續(xù)時間從試驗(yàn)箱達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時開始計算。
相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定：
①試驗(yàn)箱內(nèi)溫度變化速率；
②試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱的時間；
③試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露試驗(yàn)開始的時間；
④試驗(yàn)樣品通電或加負(fù)載的時間。
在這些條件下，相關(guān)規(guī)范的制定都可根據(jù)CB/T2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個參數(shù)（以上條件下修訂正在考慮之中）。
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相關(guān)資料 |
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